Eğitim Amacı
Gerçek süreç yeterliliğini belirlemek için, öncelikle ölçüm sisteminden kaynaklanan değişkenlik tanımlanmalı ve sürecin diğer değişkenliklerinden ayrılmalıdır. Bu nedenle veri toplamada hem hassas hem de tekrarlanabilir özelliklere sahip ölçü aletleri kullanılmalıdır. Bu eğitimin amacı, ISO 16949 uygulayıcıları başta olmak üzere ölçme yöntemleri konusunda çalışan personele ölçüm sistemleri analizinde kullanılan istatistik tekniklerini tanıtmaktır. Eğitimin ilk gününde; yerleşim (sapma, kararlılık ve doğrusallık) değişkenlikleri ve yayılım (tekrarlanabilirlik ve yeniden yapılabilirlik) değişkenlikleri hakkında bilgi, örnekler ile birlikte verilecektir. Ortalama ve aralık yöntemi ile ilgili geniş yorumlarda bu eğitimde yer alacaktır. Operatör- ekipman etkileşimin de hesaplayan ANOVA yöntemi de anlatılacak konular içinde yer almaktadır. Eğitimin ikinci gününde ise, niteliksel ölçümler için Hipotez Test Yöntemi (Kappa, etkinlik, kaçırma ve yanlış alarm hesaplamaları), spesifikasyon limitlerinin alt ve üst sınırlarının etrafındaki II numaralı bölgenin genişliğinin tahminine dayanan ve bu bilgiden GRR değerinin bulunmasını sağlayan Sinyal Yakalama Teorisi ile mastar kabulünde kullanılan Analitik Yöntem hakkında bilgi verilecektir.
Eğitim İçeriği
- Niceliksel ölçüm cihazları için MSA
- Sapma (bias), kararlılık, doğrusallık, tekrarlanabilirlik, yeniden yapılabilirlik, kısa
- Yöntem (aralık), uzun yöntem (ortalama ve aralık), anova yöntemi
- Niteliksel ölçümler için msa
- Hipotez test yöntemi, sinyal yakalama teorisi, analitik yöntem
- Uygulamalar
Süre: 2 gün
Kimler Katılmalı Ölçüm sistemleri, istatistik ve kalibrasyon konusunda genel bilgiye sahip olan ve bu alanda çalışan ya da çalışacak olan kişiler.
BU EĞİTİMLE İLGİLİ BİLGİ ALMAK İÇİN AŞAĞIDAKİ FORMU DOLDURABİLİRSİNİZ
[wpforms id=”6728″]